第1540章 領先一個身位的可能（2/2）

「結合您的構想，我認為要實現TEM-APT原位聯用，至少要解決四個核心難題……」

「……」

投影上清晰地列出要點：

「第一，樣品製備衝突。TEM要求超薄（納米級）薄膜或薄片，APT要求尖銳的針尖狀樣品……」

「第二，視場與信息源差異。TEM觀測的是整根針尖（或薄膜特定區域）的二維投影結構，而APT收集的是針尖頂端的原子逐層蒸發數據。二者觀測的『位置』和『尺度』存在根本性錯位……」

「第三，APT數據畸變。原子飛行時間受電場、鄰居原子影響，位置重建算法對針尖形狀的理想圓錐假設與實際形狀偏差很大，導致重構的三維點雲圖必定存在顯著局部畸變……」

「第四，精度維度矛盾。APT在深度方向，也就是沿針尖軸向的精度可達原子級，但橫向解析度，即垂直於針尖軸向較差，而TEM提供高分辨二維圖像，但缺乏深度信息……」

「……」

常浩南專注地聽完，臉上讚賞的表情更盛。

能在一晚上總結出如此詳實的四項內容，這位孫研究員要麼是能力超常，要麼就是早考慮過類似的問題。

稍作思考之後，他直接開口道：「後面兩個問題——APT數據的三維畸變校正，以及TEM二維高分辨信息與APT三維點雲數據的融合校準，這正是我們火炬實驗室最擅長的領域。」

儘管已經從饒志和那裡聽到過這位常院士的風格，但如此明確和堅決的表態，是孫飛過去很少見到的。

震驚之下，一時間竟然沒顧得上回應。

常浩南也不等他開口，而是繼續道：「至於前兩個難題，樣品製備和視場匹配，則需要貴方團隊來攻克，我相信，在顯微結構表徵的工程實現方面，國內應該沒人比你們更專業。」

孫飛沉吟片刻，眼中閃過幾分銳氣：

「樣品製備方面，可以嘗試聚焦離子束（FIB）和微納操縱探針協同加工，在薄膜特定區域『雕刻』出符合APT要求的納米針尖。」

顯然，常浩南剛才的猜測沒錯。

對方確實有一部分腹稿。

「至於視場匹配……目前還沒有非常確定的方案」孫飛坦率地承認道，「可能要設計特殊的高精度、多自由度原位樣品杆，配合雷射定位和圖像識別算法，確保TEM觀察後，能精確將同一微區針尖送入APT分析位置……有挑戰，但並非不可能！」

常浩南臉上欣慰的表情更濃。

難題當然不可能馬上被解決，否則也就不會被稱之為難題。

但這正是他想要的專業回應。

然而，還沒等他給出肯定的評價，孫飛話鋒一轉，又拋出了最後的顧慮：

「常院士，即使上述難題都解決，恐怕還有另一個問題。」

「你說。」

「設備集成後，TEM的高壓電子束和APT的高強度場蒸發脈衝電場，在物理上必然存在耦合和串擾。這會導致兩邊儀器的本徵性能都會下降，解析度、探測效率、穩定性……都達不到單獨使用的頂尖水平。」

他頓了頓，語氣沉重：

「而為了達到這種折中的性能，研發和製造成本將高到難以想像，這樣一台超級儀器，應用場景恐怕並不會太多……」

會議室里安靜下來。

孫飛的問題直指核心——價值與可持續性。

就算常浩南能靠刷臉拿到足夠的經費，但孫飛這邊畢竟是需要探索商業化路線的。

「孫研究員，你恐怕低估了材料科學對表徵手段的追求……」常浩南擺出一副躊躇滿志的樣子，「相信我，只要這台儀器證明了自己的能力，全球頂尖的材料實驗室、半導體巨頭，都會排著隊來求購……因為它代表著未來，代表著在材料研發競賽中，領先一個身位的可能！」

實際上，先進的表徵手段和先進的材料之間並沒有必然聯繫。

多數情況下，先進設備的主要優勢在於——

可以更加輕鬆地水論文。

所謂「領先一個身位的可能」即便真實存在，也主要是來自於常浩南和火炬實驗室強大的計算能力。

設備只是輔助。

但他也不可能承認說自己正在搞一個可能顛覆整個材料學體系的大新聞。

所以只好改為畫餅。

而恰好，孫飛這樣的人，還真就吃這一套。

他不再猶豫，有力地握住了常浩南的手。

「常院士，您說服我了！」孫飛的聲音鏗鏘有力，「技術上，我們生物成像中心，一定全力以赴！」