第230節 充電技術研發和測試（2/2）
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見員工們對充電技術研發沒有經驗，李飛再問下去，就沒有用處了，就微笑地說道：
各位，我們作為晶片研發工程師，對於消費者提出的需求，我們應該去做的更好…，這樣的話，我們公司才會獲得消費者的認可…
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「要實現MP3充電時間縮短為2個小時，這不是一個難題，這是很簡單。」李飛淡定地說道。
員工們對李飛露出敬佩之色，
然後，李飛環視著在座員工們，語氣堅定地說道：
我們應該把MP3充電技術縮短在5分鐘，也就是說充電5分鐘，聽歌10小時。
轟
員工們瞪大眼睛，完全不相信：
「什麼？李工，5分鐘就能完成對MP3充電？」
「我的天，5分鐘就能對MP3電池完成充電。這太厲害了吧！」
「5分鐘？這電池能承受了嗎？充電電路能承受住？」
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就在員工們一臉震驚之時，李飛直接寫出21世紀的快充技術，分為四個類型：OPPO公司VOOC閃充快速充電技術、高通Quick Charge 2.0快速充電技術、聯發科Pump Express Plus快速充電技術，以及水果公司的PD快充技術…
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為了讓員工們擴大充電技術，李飛把以上四個類型快充技術寫在寫字板上，同時，一一分析三種類型的特點：
OPPO 的充電技術具有一套定製的電路、電芯、接口、數據線，配以智能 MCU 晶片的充電器。其把恆流電路、恆壓電路、溫度檢測電路以及各類保護電路都設計在了充電器，在手機內部僅有一個限流電阻，防止充電電流過大...
MTK 的快充技術有兩種規格，一種是 Pump Express，另一種就是 Pump Express Plus。內置於手機內部的電源管理晶片（Power Manager IC，PMIC），通過Pump Express Plus，Pump Express 協議，允許適配器根據電流決定充電所需要的初始電壓，PMIC通過 USB 連接線的 Vbus 把指令傳輸給適配器，
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李飛把四種快速充電技術寫在寫字板，進一步解釋…，再根據四個類型，研發出大深市晶片產業有限公司的快充晶片，並直接寫出快充主控晶片的規格：
晶片封裝：SOP
MP3快速充電的輸入電壓和電流：5V/5A
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確定快充主控晶片的規格後，那麼，就要開始晶片設計，交給晶片多媒體技術1部和2部共同完全，李飛提高晶片技術指導。
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很快，快充主控晶片設計完成，發給台積電流片打樣…
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那麼，在快充主控晶片打樣期間，就要準備快充的電子電路設計，在PCB板極電子電路圖的設計中，使用的板極EDA軟體，是分為兩種功能軟體：邏輯電路軟體和PCB LAYOUT軟體…
首先，在邏輯EDA軟體繪製器件的邏輯封裝，再畫出邏輯電路圖，而這個邏輯電路圖是根據u盤的整個模塊功能進行設計的。不過，需要說明的是，在繪製邏輯封裝和電路圖設計時，相關器件的資料一定要向供應商索取，去確定電子器件的參數，
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在邏輯EDA軟體繪製完邏輯電路圖後，接下來的工作，就是在PCB EDA軟體對器件進行PCB封裝製作，包括快充主控晶片，MOS管的封裝，二極體封裝…，同樣，PCB封裝是需要按照供應商提供的器件參數進行設計的…
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在PCB EDA軟體里製作好PCB器件封裝後，然後，就是邏輯EDA軟體和PCB EDA軟體進行同步更新，把邏輯EDA的電路圖導入到PCB EDA軟體…，這樣的話，就可以在PCB EDA軟體里，出現了PCB封裝器件和連接電路線路，
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接著在PCB EDA軟體，進行布局，走線，完成後，進行連接和規則檢測，確定沒有錯誤後，在PCB EDA軟體輸出製造PCB加工文件，發給板廠進行PCB製作。
完成快充主控晶片的電子電路設計後，就下了就是整理快充主控晶片電子物料BOM單子，供成本核算和電子物料準備
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很快三周後，從台積電生產打樣的100片快充主控晶片回到公司，那麼，接下來就是快充主控晶片測試過程，
快充主控晶片放入ATE儀器的測試台內的晶片插座後，打開儀器電源按鈕，然後，確定ATE儀器與U盤主控晶片連接正常，再開始進行晶片測試，
ATE對晶片測試基本的範圍為：晶片引腳的連通性測試，晶片漏電流測試，晶片引腳DC（直流）測試，晶片功能測試，晶片ESD靜電測試，晶片老化測試（也就是晶片質量驗證）
以及晶片穩定性測試，在溫度（零下30度和高溫50度）進行測試，確定晶片是否能正常工作…
先是對快充主控晶片的引腳的連通性測試，晶片漏電流測試，DC（直流）測試，這是晶片測試的第一步，檢測快充主控晶片的連通性是否正常，確定快充主控晶片的內部電路連通，晶片內部電路是否有缺陷。
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在對快充主控晶片測試的同時，整機電路的測試也要同步，把快充主控晶片的電子元器件，電阻電容，焊接到PCB主板，先是測試PCB主板電流和電壓問題，包括快充主控晶片的性能和功能
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快充主控晶片功能測試合格後，還要需要老化測試範圍包括：溫度，環境，電壓，跌落…，例如電壓測試：加速的方式進行測試，把溫度突然提高到50度，外接的電壓從正常工作電壓5V突然提高到6V，進行長達3小時，甚至20小時或者30小時的老化測試，
如果沒有任何的晶片和電子電路出現問題，那麼，測試合格...。